VI 분석의 새로운 정점, FADOS XI - 신제품

FADOS XI는 이미 시장에서 검증된 9F1 플랫폼을 기반으로 하여, 정밀 진단에 필수적인 두 가지 핵심 기술을 추가해 수리 효율을 극대화한 제품입니다.

• 비접촉식 단락(Short) 감지 센서: 이제 회로 기판을 절단하거나 부품을 탈거할 필요가 없습니다. 단락 된 도체의 전류 경로를 비접촉식으로 추적하여 정확한 결함 지점을 찾아냅니다.

• 3D 단계별 주파수 스캐닝 (50–2,500 Hz): 단일 주파수 테스트로는 발견하기 어려운 커패시터 용량 저하와 공진 문제를 주파수별 VI 곡선 변화를 통해 3D로 시각화합니다.

• FADOS9F1의 모든 기능을 포함

PCB 고장 진단의 표준, FADOS9F1 VI TESTER

FADOS9F1 VI TESTER는 12비트 고해상도 VI 곡선 추적기, 프로그래머블 전원 공급 장치, 적외선 열 센서를 하나로 통합한 ProT Ar-Ge의 주력 모델입니다.

• 정밀 VI 특성 곡선 분석: 전원이 차단된 상태에서 부품의 고유 파형을 생성합니다. 정상 기판의 기준값과 실시간으로 비교하여 복잡한 회로 내 결함을 즉각 파악합니다.

• 통합 열적 결함 위치 파악: 내장된 전원 공급 장치(0–40V)로 보드에 전압을 인가하고, 적외선 센서를 통해 단락된 부품의 열 핫스팟을 감지하여 VI 분석과 열 분석을 단일 워크플로우로 처리합니다.

• 데이터 추적성 및 리포트: 무제한의 보드 기준 데이터를 저장할 수 있으며, 수리 이력 관리를 위해 인쇄 가능한 결함 지점 보고서를 자동으로 생성합니다.

• 다기능 워크스테이션: 오실로스코프, 가변 DC 전원 공급 장치, 자동 부품 측정 및 등가 회로도 생성 기능 포함

실용성과 효율성을 겸비한 VI 분석기의 시작, FADOS7F1 VI TESTER

FADOS 7F1은 핵심적인 VI 커브 분석 기능을 집약한 경제적인 모델로, 중소규모 수리 현장이나 교육용으로 최적화된 고장 진단기입니다.

• 컴팩트한 VI 커브 진단: 전원을 인가하지 않은 상태에서 부품의 고유 특성 파형을 분석하여 단락, 단선 및 부품 불량을 판별합니다.

• 실시간 파형 비교: 정상 기판의 파형과 고장 기판의 파형을 비교하여 회로도 없이도 문제 지점을 빠르게 좁힐 수 있습니다.

• 직관적인 인터페이스: 복잡한 설정 없이 초보자도 쉽게 부품의 상태를 확인할 수 있는 사용자 친화적 환경을 제공합니다.

대량 진단 및 자동화 테스트를 위한 다채널 확장 솔루션, FADOS MUX MODULE

FADOS MUX MODULE은 기존 FADOS 분석기에 연결하여 측정 채널을 64채널 이상으로 확장해 주는 장치입니다. 커넥터가 많은 대형 기판이나 반복적인 전수 검사 시 작업 시간을 획기적으로 줄여줍니다.

• 다채널 동시 연결 및 스캔: 최대 64개의 지점(확장 시 그 이상)을 동시에 연결하여 일일이 프로브를 찍지 않고도 자동으로 회로를 스캔합니다.

• 자동 비교 테스트: 저장된 정상 데이터와 각 채널의 데이터를 자동으로 비교하여 결함이 있는 핀이나 라인을 즉각 찾아냅니다.

• 대량 수리 및 생산 최적화: 동일한 기판을 대량으로 점검해야 하는 제조 현장이나 서비스 센터에서 검사 프로세스를 자동화할 수 있습니다.